als Elektronenkomponente ist die Leuchtdioden-LED mehr als 40 Jahre alt. aber für eine lange Zeit, begrenzt durch Lichtausbeute und Helligkeit, hat die Leuchtdioden-LED ein Anzeigelicht. Bis zum Ende des letzten Jahrhunderts war der technische Flaschenhals gebrochen, erzeugte hohe Helligkeit und hohe Effizienz führte und uv geführt , das seinen Anwendungsbereich auf Signalleuchte, Stadtnachtansichtprojekt, farbenreichen Bildschirm, etc. ausdehnte und die Möglichkeit der Lichtquelle zur Verfügung stellte. mit der Zunahme der LED-Anwendung, ist es wichtiger, LED-Zuverlässigkeit zu verbessern.

LED hat die Vorteile von kleinen Volumen, geringer Stromverbrauch, lange Lebensdauer, Umweltschutz, hohe Zuverlässigkeit. in der tatsächlichen Produktion und Entwicklung, das Zuverlässigkeitsniveau von LED-Chip muss durch den Lebensdauertest bewertet werden und verbessert das Zuverlässigkeitsniveau des geführten Chips durch Qualitätsrückgespräch, um die Qualität des geführten Chips sicherzustellen. Um die Industrialisierung der gesamten Farbe LED zu realisieren, sind die Bedingungen, Methoden, Mittel und Geräte für den Lebensdauertest von LED-Chip werden entwickelt, um den wissenschaftlichen Charakter und die Genauigkeit der Ergebnisse zu verbessern.

Bestimmung der Lebensdauertests

Unter den spezifizierten Arbeits- und Umgebungsbedingungen wird die Arbeit von elektronischen Produkten als Lebensdauertest bezeichnet, der auch als Dauerhaftigkeitstest bezeichnet wird.

Mit der Verbesserung der LED-Produktionstechnologie haben sich die Lebensdauer und die Zuverlässigkeit der Produkte stark verbessert. Das theoretische Leben von LED ist 100.000 Stunden. Wenn es noch unter normalen normalen Nennbelastungen verwendet wird, ist es schwierig, eine objektivere Bewertung der Produktlebensdauer und -zuverlässigkeit vorzunehmen. Der Hauptzweck des Experiments besteht jedoch darin, die Dämpfung von Ultraviolett-LED-Chip optischer Ausgang durch Lebensdauertest, und dann, um seine Lebensdauer abzuleiten.

nach den Eigenschaften von UV-LED-Geräte Nach dem Vergleichstest und der statistischen Analyse werden die Lebensdauertestbedingungen von Mikrochips unter 0,3x ~ 0,3mm2 am Ende angegeben:

1. die probe wurde zufällig ausgewählt, und die qualität war 8 ~ 10 chips, gebildet ф5 einzigen lampe.

2. der Arbeitsstrom war 30mA.

3. die Umweltbedingung ist Innentemperatur (25 ℃ ± 5 ℃).

4.Der Testzeitraum wurde mit 96 Stunden, 1.000 Stunden und 5.000 Stunden geteilt.

der Arbeitsstrom 30ma ist 1.5 Zeit des Nennwertes, ist der Lebenstest der zunehmenden elektrischen Belastung. Sein Ergebnis kann nicht die tatsächliche Lebenserwartung darstellen, aber es gibt eine Menge Referenzwert. der Lebensdauertest wurde mit den epitaktischen Scheiben durchgeführt, war eine zufällige Extraktion von 8 ~ 10 Chips in einer der epitaktischen Scheiben, durchgeführt im 96 Stunden-Lebensdauertest, wobei das Ergebnis alle epitaxialen Scheiben darstellte, die in dieser Produktionscharge hergestellt wurden.

im Allgemeinen wird angenommen, dass der Testzyklus von 1.000 Stunden oder mehr als Langzeitlebensdauertest bezeichnet wird. Wenn der Produktionsprozess stabil ist, ist die Lebenstestfrequenz von 1.000 Stunden niedrig und die Lebenstestfrequenz von 5.000 Stunden ist niedriger.

Verfahren und Vorsichtsmaßnahmen

zum LED-Chip Lebensdauertestproben können ein Chip verwendet werden, der allgemein als nackter Kristall bekannt ist, wobei auch die Vorrichtung verwendet werden kann, die durch gekapselt ist.

Unter Verwendung der nackten Kristallform ist die äußere Belastung klein und Wärme kann leicht abgeleitet werden. Daher ist die Lichtdämpfung gering, die Lebensdauer ist lang, es gibt eine Lücke zur tatsächlichen Anwendung, sie kann durch Erhöhen des Stroms eingestellt werden, aber es ist besser, ein einzelnes Lampengerät direkt zu verwenden.

Das Lebensexperiment einer einzelnen Lampenvorrichtung machte die Faktoren der Photoalterung von Vorrichtungen kompliziert. es kann einen Chip-Faktor geben, es gibt auch Verkapselungsfaktoren. im Experiment, eine Vielzahl von Maßnahmen zu ergreifen, die Auswirkungen der Verkapselung zu reduzieren, die Details der Genauigkeit der Testergebnisse zu verbessern, nur auf diese Weise wird die Objektivität und Genauigkeit der Testergebnisse garantiert.

1.sample Extraktionsverfahren

Der Lebensdauertest kann nur die Stichprobenmethode verwenden, bei der ein gewisses Risiko besteht.

Erstens hat die Produktqualität einen gewissen Grad an Einheitlichkeit und Stabilität, was die Voraussetzung für die Stichprobenbewertung ist. Nur wenn die Produktqualität einheitlich ist, ist die Probenahme repräsentativ.

Zweitens, weil die tatsächliche Produktqualität eine gewisse Diskretion aufweist, haben wir die Methode der Partitions-Zufallsauswahl gewählt, um die Genauigkeit der Lebensdauertestergebnisse zu verbessern. Auf der Suche nach den relevanten Informationen und der Durchführung einer großen Anzahl vergleichender Experimente schlugen wir eine wissenschaftlichere Probenextraktionsmethode vor: Gemäß seiner Position im Epitaxie-Chip wird der Chip in vier Zonen unterteilt, mit 2 ~ 3 Chips in jeder Region. und 8 ~ 10 Chips insgesamt. für verschiedene Geräte hat unterschiedliche Ergebnisse der Lebensdauertests und sogar widersprüchlich. Wir haben ein Verfahren für den Lebensdauertest festgelegt, das mit 4 ~ 6 Chips in jeder Region und insgesamt 16 ~ 20 Chips unter normalen Bedingungen getestet wird. nur die Menge wurde angezogen, nicht die Testbedingung.

Drittens, je mehr die Stichprobe, desto geringer das Risiko, desto genauer ist das Ergebnis der Lebensdauertests. Je mehr Proben jedoch entnommen wurden, desto unweigerlich müssen Arbeitskräfte, Material und Zeit verschwendet werden, und die Testkosten müssen steigen. Wir haben daran gearbeitet, wie wir mit der Beziehung zwischen Risiko und Kosten umgehen. Unser Ziel ist es, das Risiko zu den gleichen Kosten zu maximieren, indem wir einen wissenschaftlichen Stichprobenansatz anwenden.

2.photoelektrische Parameter Testmethode und Geräteverteilungskurve

im lebenstest von led, die testprobe war bildschirm durch photoelektrische parameter test zunächst. abnormale photoelektrische Parameter oder Vorrichtungen wurden eliminiert. Die qualifizierten Produkte müssen nummeriert und in den Lebensdauertest aufgenommen werden. Der Test sollte nach dem Dauertest durchgeführt werden, um die Ergebnisse des Lebensdauertests zu erhalten.

Um die Ergebnisse des Lebensdauertests objektiv und genau zu machen, außer dass das Gerät gut vermessen wird, wird außerdem festgelegt, dass vor und nach dem Test das gleiche Prüfgerät verwendet wird, um unnötige Fehler zu vermeiden. Dies ist besonders wichtig für Lichtparameter. In der Frühphase haben wir die Lichtintensität der Messgeräte genutzt, um den Zustand des Lichts zu beurteilen. die axiale Lichtintensität der allgemeinen Testvorrichtung, für eine Vorrichtung mit einer Hälfte = Winkel der Lichtverteilungskurve, die Größe der Lichtintensität verschieden dramatisch mit Geometrie, Messwiederholfähigkeit ist schwach, was die Objektivität und Genauigkeit der beeinflusst Testergebnisse. Um diese Situation zu vermeiden, wird ein großer Einkapselungswinkel gewählt und kein Reflektorbecherhalter gewählt, um den Effekt der Reflexionsschale mit Licht zu eliminieren, um den Einfluss der optischen Leistung zu eliminieren und die Genauigkeit der optischen Parameterprüfung zu verbessern . Die anschließende Anwendung der Lichtflussmessung wird verifiziert.

3. die Wirkung von Harzen auf den Lebensdauertest

Die Transparenz des vorhandenen Epoxid-Verkapselungsmaterials wird durch ultraviolette Strahlung reduziert, ist die Photoalterung von Polymermaterialien, ist das Ergebnis einer Reihe von komplexen Reaktionen, die ultraviolette Strahlung und Sauerstoff beinhalten. es wird allgemein angenommen, dass der automatische Oxidationsprozess durch Licht verursacht wird. Der Einfluss der Harzbeeinträchtigung auf die Lebensdauertesultate spiegelt hauptsächlich 1000 Stunden oder mehr lange Lebensdauertests wider. Gegenwärtig können die Ergebnisse des Lebensdauertests verbessert werden, indem ultraviolette Strahlung so weit wie möglich reduziert wird. in der Zukunft kann es auch verwendet werden, um eingekapselte Materialien zu wählen, oder um den optischen Zerfallwert von Epoxidharz zu überprüfen, und um ihn vom Lebenstest auszuschließen.

4. der Effekt des Verkapselungsprozesses auf Lebensdauertest

Einkapselungsprozess hat großen Einfluss auf den Lebensdauertest. Es wurde transparentes Harz verwendet, das die interne Fixierung und Verbindung durch Mikroskop zur Fehleranalyse direkt beobachten kann. aber nicht alle Verkapselungsdefekte können beobachtet werden. zum Beispiel sind die Qualität und das Verfahren zum Verbinden von Lötverbindungen eng mit Temperatur und Druck verbunden. Eine zu hohe Temperatur und ein zu hoher Druck verursachen eine Verformung des Chips, die Spannungen erzeugt. Dadurch werden Dislokation und sogar dunkle Risse eingeführt, die die Effizienz und die Lebensdauer des Lichts beeinflussen.

Anziehende Spannungsänderung der führenden Verbindung, Harzeinkapselung, wie Wärmeableitung, Ausdehnungskoeffizient sind die wichtigen Faktoren, die die Lebensdauertestergebnisse beeinflussen. Die Ergebnisse seines Lebensdauertests sind schlechter als die der bloßen Kristalllebensdauer. für den Schwachstrom-Leistungs-Chip ist jedoch der Qualitätsbereich der Bewertung erhöht, und die Lebensdauer-Testergebnisse sind näher an der tatsächlichen Verwendung, die einen bestimmten Referenzwert für die Produktionssteuerung hat.